Thin film transistor structure and method for measuring channel resistance and contact resistance

WO2020087581 Art A1 7. Mai 2020

Anmelder: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020087581
Aktenzeichen: EP18938238
Anmeldetag: 16. November 2018
Veröffentlichung: 7. Mai 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 China Star Optoelectronics (CSOT)

Chinesischer Displayhersteller mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft des TCL-Konzerns. CSOT entwickelt und produziert LCD- und OLED-Panels für Fernseher, Monitore und mobile Endgeräte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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