Method for quantitatively analyzing crystalline fraction in amorphous oxide semiconductor layer

WO2020096279 Art A1 14. Mai 2020

Anmelder: LG CHEM, LTD. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020096279
Aktenzeichen
EP19883092
Anmeldetag
1. November 2019
Veröffentlichung
14. Mai 2020
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/47G01N21/17C01G15/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
LG CHEM, LTD.
Land
🇰🇷 Südkorea
🇰🇷 LG Chem

Südkoreanisches Chemieunternehmen, das Batteriematerialien, Kunststoffe, petrochemische Produkte und pharmazeutische Wirkstoffe herstellt.

11.924 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Anorganische Chemie & Werkstoffe Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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