Semiconductor device, pad structure and fabrication method thereof

WO2020098623 Art A1 22. Mai 2020

Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020098623
Aktenzeichen
EP19884534
Anmeldetag
12. November 2019
Veröffentlichung
22. Mai 2020
Rechtsraum
WO
IPC
H01L23/488H01L21/60
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Changxin Memory Technologies, Inc.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

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