Scanning probe microscope and scanning probe microscope optical axis adjustment method

WO2020105213 Art A1 28. Mai 2020

Anmelder: SHIMADZU CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020105213
Aktenzeichen: EP19887141
Anmeldetag: 3. Juli 2019
Veröffentlichung: 28. Mai 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q20/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SHIMADZU CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

3.497 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von