Tester and method for calibrating probe card and device under testing (dut)

WO2020108352 Art A1 4. Juni 2020

Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020108352
Aktenzeichen: EP19890611
Anmeldetag: 19. November 2019
Veröffentlichung: 4. Juni 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/073G01R31/00H01L21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Changxin Memory Technologies, Inc.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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