Method for locating hit point of ray in scintillation crystal, and system therefor

WO2020114330 Art A1 11. Juni 2020

Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020114330
Aktenzeichen: EP19891761
Anmeldetag: 29. November 2019
Veröffentlichung: 11. Juni 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01T1/29A61B6/03

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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