Photoplethysmography signal feature point detecting method and device
WO2020114448
Art A1
11. Juni 2020
Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020114448
- Aktenzeichen
- EP19893920
- Anmeldetag
- 5. Dezember 2019
- Veröffentlichung
- 11. Juni 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B5/024
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
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