Inspection assistance device and method for structure

WO2020116279 Art A1 11. Juni 2020

Anmelder: FUJIFILM CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020116279
Aktenzeichen: EP19893295
Anmeldetag: 27. November 2019
Veröffentlichung: 11. Juni 2020
Rechtsraum: WO
IPC: E04G23/00G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: FUJIFILM CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

21.764 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Hochbau & Gebäudetechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von