On-machine inspection and compensation method employing point clouds and applied to complex surface processing

WO2020118970 Art A1 18. Juni 2020

Anmelder: EAST CHINA UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020118970
Aktenzeichen: EP19896361
Anmeldetag: 28. März 2019
Veröffentlichung: 18. Juni 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/24

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: EAST CHINA UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 East China University of Science and Technology

Die East China University of Science and Technology ist eine chinesische Universität mit Sitz in Shanghai und starkem Fokus auf Chemie- und Verfahrenstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf organische Chemie sowie Medizintechnik und Gesundheit, mit Nebenschwerpunkten in Pharma und Farbenchemie. Anmeldungen laufen kontinuierlich seit 2001.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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