Highlight object surface defect detection system and method based on reflected light

WO2020119246 Art A1 18. Juni 2020

Anmelder: South China University of Technology 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020119246
Aktenzeichen: EP19895260
Anmeldetag: 16. Oktober 2019
Veröffentlichung: 18. Juni 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: South China University of Technology
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 South China University of Technology

Chinesische Universität mit Sitz in Guangzhou, die als Anmelderin von Patenten aus ihrer technischen und naturwissenschaftlichen Forschung auftritt. Schwerpunkte liegen unter anderem in Materialwissenschaft und Maschinenbau.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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