Dimension measurement device, dimension measurement program, and semiconductor manufacturing system
WO2020121564
Art A1
18. Juni 2020
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020121564
- Aktenzeichen
- EP19894962
- Anmeldetag
- 4. Juli 2019
- Veröffentlichung
- 18. Juni 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66G01B21/00G06N20/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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