Apparatus and method for testing a device-under-test
WO2020126019
Art A1
25. Juni 2020
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020126019
- Aktenzeichen
- EP18829390
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2018
- Veröffentlichung
- 25. Juni 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R27/06G01R31/319G01R31/3193
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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