Probe pin inspection mechanism and inspection device
WO2020129135
Art A1
25. Juni 2020
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020129135
- Aktenzeichen
- EP18943753
- Anmeldetag
- 17. Dezember 2018
- Veröffentlichung
- 25. Juni 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R35/02G01R1/067G01R31/36
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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