Position metrology apparatus and associated optical elements

WO2020141050 Art A1 9. Juli 2020

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020141050
Aktenzeichen
EP19813914
Anmeldetag
11. Dezember 2019
Veröffentlichung
9. Juli 2020
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/20G03F9/00G02B26/00G02B26/02G02B5/28G01J3/26
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML NETHERLANDS B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen