Sample supply device, inductively coupled plasma analysis system including said sample supply device, and sample supply method

WO2020148971 Art A1 23. Juli 2020

Anmelder: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020148971
Aktenzeichen: EP19910465
Anmeldetag: 1. November 2019
Veröffentlichung: 23. Juli 2020
Rechtsraum: WO
IPC: H05H1/26G01N21/73

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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