Automated test equipment for testing one or more devices under test, method for automated testing of one or more devices under test, and computer program using a buffer memory
WO2020152231
Art A1
30. Juli 2020
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020152231
- Aktenzeichen
- EP20701970
- Anmeldetag
- 22. Januar 2020
- Veröffentlichung
- 30. Juli 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319G01R31/3193
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
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