Automated test equipment for testing one or more devices under test, method for automated testing of one or more devices under test, and computer program for handling command errors
WO2020152232
Art A1
30. Juli 2020
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020152232
- Aktenzeichen
- EP20701971
- Anmeldetag
- 22. Januar 2020
- Veröffentlichung
- 30. Juli 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319G01R31/3193G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
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