Measuring method and device for measuring thickness of substrate
WO2020156296
Art A1
6. August 2020
Anmelder: SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020156296
- Aktenzeichen
- EP20747889
- Anmeldetag
- 20. Januar 2020
- Veröffentlichung
- 6. August 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Saint-Gobain
Französischer Industriekonzern mit Sitz in Courbevoie bei Paris, einer der weltweit führenden Hersteller von Baustoffen. Aktiv in Glastechnologie, Hochleistungswerkstoffen, Isolierungen sowie Bau- und Verpackungslösungen.
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