Measurement device and method for controlling measurement device
WO2020162466
Art A1
13. August 2020
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020162466
- Aktenzeichen
- EP20751941
- Anmeldetag
- 4. Februar 2020
- Veröffentlichung
- 13. August 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01C15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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