Substrate location detection and adjustment

WO2020163644 Art A1 13. August 2020

Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020163644
Aktenzeichen: EP20753225
Anmeldetag: 6. Februar 2020
Veröffentlichung: 13. August 2020
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/67H01L21/687H01J37/32H01L21/683H01L21/677G01B11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: LAM RESEARCH CORPORATION
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Lam Research

US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.

2.725 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von