Defect detection method for tft array substrate

WO2020164201 Art A1 20. August 2020

Anmelder: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020164201
Aktenzeichen: EP19914722
Anmeldetag: 20. Mai 2019
Veröffentlichung: 20. August 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 China Star Optoelectronics (CSOT)

Chinesischer Displayhersteller mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft des TCL-Konzerns. CSOT entwickelt und produziert LCD- und OLED-Panels für Fernseher, Monitore und mobile Endgeräte.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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