Verfahren zum Messen des Spezifischen Widerstands von Halbleitermaterialien
WO2020165298
Art A1
20. August 2020
Anmelder: TECHNISCHE UNIVERSITÄT WIEN 🇦🇹
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020165298
- Aktenzeichen
- EP20712207
- Anmeldetag
- 13. Februar 2020
- Veröffentlichung
- 20. August 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/2273
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TECHNISCHE UNIVERSITÄT WIEN
- Land
- 🇦🇹 Österreich
🇦🇹
Technische Universität Wien
Die Technische Universität Wien ist eine österreichische Technische Universität mit breitem ingenieur- und naturwissenschaftlichem Forschungsprofil. Das Patentportfolio verteilt sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, Kunststofftechnik sowie Medizintechnik und Pharma. Anmeldungen laufen seit 2005 bis in die Gegenwart.
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