Nondestructive test system and nondestructive test method

WO2020175653 Art A1 3. September 2020

Anmelder: TOPCON CORPORATION, RIKEN 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020175653
Aktenzeichen
EP20762368
Anmeldetag
27. Februar 2020
Veröffentlichung
3. September 2020
Rechtsraum
WO
IPC
G01N23/204
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
TOPCON CORPORATION
RIKEN
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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