Nondestructive testing system and nondestructive testing method
WO2020175654
Art A1
3. September 2020
Anmelder: TOPCON CORPORATION, RIKEN 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020175654
- Aktenzeichen
- EP20762079
- Anmeldetag
- 27. Februar 2020
- Veröffentlichung
- 3. September 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/09G01N23/18G01N23/204
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TOPCON CORPORATION
RIKEN - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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