Nondestructive testing system and nondestructive testing method
WO2020175654
Art A1
3. September 2020
Anmelder: TOPCON CORPORATION, RIKEN 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020175654
- Aktenzeichen
- EP20762079
- Anmeldetag
- 27. Februar 2020
- Veröffentlichung
- 3. September 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/09G01N23/18G01N23/204
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TOPCON CORPORATION
RIKEN - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
710 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
RIKEN
Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.
1.684 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.