Microscope and observation method
WO2020179032
Art A1
10. September 2020
Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020179032
- Aktenzeichen
- EP19917661
- Anmeldetag
- 6. März 2019
- Veröffentlichung
- 10. September 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B21/14G02B21/36
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NIKON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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