Reflection-type mask blank, reflection-type mask and method for manufacturing same, and method for manufacturing semiconductor device

WO2020184473 Art A1 17. September 2020

Anmelder: HOYA CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020184473
Aktenzeichen
EP20770370
Anmeldetag
6. März 2020
Veröffentlichung
17. September 2020
Rechtsraum
WO
IPC
G03F1/24G03F1/54C23C14/14
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
HOYA CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Hoya

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, aktiv in den Bereichen optische Gläser, Halbleiterfotomasken und medizinische Endoskopie- sowie Augenheilkundeprodukte.

701 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen