Geometric parameter calibration piece and calibration method for ct device

WO2020192265 Art A1 1. Oktober 2020

Anmelder: TSINGHUA UNIVERSITY, NUCTECH COMPANY LIMITED 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020192265
Aktenzeichen: EP20777540
Anmeldetag: 20. Januar 2020
Veröffentlichung: 1. Oktober 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01V13/00G01N23/046A61B6/03G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: TSINGHUA UNIVERSITY
NUCTECH COMPANY LIMITED
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

3.287 Patente in unserer Datenbank

🇨🇳 Nuctech

Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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