Method for manufacturing reference piece for x-ray measurement of residual stress and reference piece for x-ray measurement of residual stress

WO2020194909 Art A1 1. Oktober 2020

Anmelder: SINTOKOGIO, LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020194909
Aktenzeichen: EP19920762
Anmeldetag: 13. Dezember 2019
Veröffentlichung: 1. Oktober 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/205G01N1/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SINTOKOGIO, LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sintokogio, Ltd.

Japanischer Hersteller von Gießerei- und Industrieanlagen (Formmaschinen, Oberflächenbehandlungstechnik) mit Sitz in Nagoya. Patente betreffen Gieß- und Fertigungstechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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