Gauge, production method therefor, accuracy evaluation method for shape-measurement instrument, and method for correcting measurement data
WO2020196030
Art A1
1. Oktober 2020
Anmelder: MITSUBISHI POWER, LTD., NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020196030
- Aktenzeichen
- EP20778559
- Anmeldetag
- 16. März 2020
- Veröffentlichung
- 1. Oktober 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B21/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- MITSUBISHI POWER, LTD.
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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