Eddy-current flaw detection system and eddy-current flaw detection method
WO2020196302
Art A1
1. Oktober 2020
Anmelder: IHI CORPORATION, IHI INSPECTION&INSTRUMENTATION CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020196302
- Aktenzeichen
- EP20778569
- Anmeldetag
- 19. März 2020
- Veröffentlichung
- 1. Oktober 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N27/90
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IHI CORPORATION
IHI INSPECTION&INSTRUMENTATION CO., LTD. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
IHI Corporation
Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.
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