Substrate and material characterisation method and device
WO2020201679
Art A1
8. Oktober 2020
Anmelder: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION, SONY EUROPE B.V. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020201679
- Aktenzeichen
- EP20705494
- Anmeldetag
- 7. Februar 2020
- Veröffentlichung
- 8. Oktober 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N22/00H01P3/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
SONY EUROPE B.V. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sony Semiconductor Solutions
Japanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Atsugi, eine Tochtergesellschaft der Sony Group. Das Unternehmen entwickelt Bildsensoren, CMOS-Sensoren und Halbleiterlösungen für Kameras, Smartphones, Automobile und industrielle Anwendungen.
6.194 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
Sony Group
Japanischer Technologie- und Unterhaltungskonzern mit Sitz in Tokio. Sony entwickelt Unterhaltungselektronik, Bildsensoren, Spielesysteme sowie Musik- und Filmangebote.
37.221 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.