Device parameter measurement method

WO2020209110 Art A1 15. Oktober 2020

Anmelder: ROHM CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020209110
Aktenzeichen: EP20787248
Anmeldetag: 27. März 2020
Veröffentlichung: 15. Oktober 2020
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/822H01L27/04H01L21/8234H01L27/06H01L27/088H01L29/00H01L21/336H01L29/78H01L29/12G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ROHM CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rohm

Japanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kyoto, spezialisiert auf integrierte Schaltkreise, diskrete Halbleiterbauelemente und Leistungshalbleiter (unter anderem Siliziumkarbid-Bauteile).

2.771 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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