Methods and systems for combining x-ray metrology data sets to improve parameter estimation
WO2020214745
Art A1
22. Oktober 2020
Anmelder: KLA CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020214745
- Aktenzeichen
- EP20791563
- Anmeldetag
- 16. April 2020
- Veröffentlichung
- 22. Oktober 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/20G01B15/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KLA CORPORATION
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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