Semiconductor integrated circuit device and inspection method for semiconductor integrated circuit device
WO2020217925
Art A1
29. Oktober 2020
Anmelder: HITACHI ASTEMO, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020217925
- Aktenzeichen
- EP20795694
- Anmeldetag
- 3. April 2020
- Veröffentlichung
- 29. Oktober 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/822H01L27/04G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI ASTEMO, LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi Astemo
Japanischer Automobilzulieferer mit Sitz in Hitachinaka, hervorgegangen aus Hitachi Automotive Systems. Hitachi Astemo entwickelt Fahrwerks-, Antriebs- und Bremssysteme sowie Elektronik für konventionelle und elektrifizierte Fahrzeuge.
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