Atomic layer etch and selective deposition process for extreme ultraviolet lithography resist improvement
WO2020223011
Art A1
5. November 2020
Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020223011
- Aktenzeichen
- EP20798541
- Anmeldetag
- 14. April 2020
- Veröffentlichung
- 5. November 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/033H01L21/311H01L21/027H01L21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- LAM RESEARCH CORPORATION
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Lam Research
US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.
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