Defect density calculation method, defect density calculation program, defect density calculation device, heat treatment control system, and processing control system

WO2020226064 Art A1 12. November 2020

Anmelder: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020226064
Aktenzeichen: EP20801801
Anmeldetag: 23. April 2020
Veröffentlichung: 12. November 2020
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/00H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sony Semiconductor Solutions

Japanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Atsugi, eine Tochtergesellschaft der Sony Group. Das Unternehmen entwickelt Bildsensoren, CMOS-Sensoren und Halbleiterlösungen für Kameras, Smartphones, Automobile und industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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