Two-sided in-situ measurement system and method for charge distribution in thin dielectric film

WO2020239002 Art A1 3. Dezember 2020

Anmelder: Tongji University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020239002
Aktenzeichen: EP20814357
Anmeldetag: 28. Mai 2020
Veröffentlichung: 3. Dezember 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01R29/24

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Tongji University
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Tongji University

Die Tongji University ist eine chinesische Forschungsuniversität mit Sitz in Shanghai. Das Patentportfolio verteilt sich über Software, Mess- und Prüftechnik, Nachrichtentechnik sowie anorganische Chemie und Medizintechnik. Die Anmeldungen aus den Jahren 2002 bis 2025 reichen von elektrorheologischen Polierverfahren bis zu Antitumor-Wirkstoffen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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