Scanning Electron Microscope

WO2020245962 Art A1 10. Dezember 2020

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020245962
Aktenzeichen: EP19931692
Anmeldetag: 6. Juni 2019
Veröffentlichung: 10. Dezember 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/2251H01J37/22H01J37/244

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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