Defect inspection device and defect inspection device calibration method

WO2020255282 Art A1 24. Dezember 2020

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020255282
Aktenzeichen: EP19933472
Anmeldetag: 19. Juni 2019
Veröffentlichung: 24. Dezember 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01B11/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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