Methods and systems for optical surface defect material characterization
WO2021007262
Art A1
14. Januar 2021
Anmelder: KLA CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021007262
- Aktenzeichen
- EP20837044
- Anmeldetag
- 8. Juli 2020
- Veröffentlichung
- 14. Januar 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/88G01N21/95
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KLA CORPORATION
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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