Method of estimating characteristic value of semiconductor element, and system for estimating characteristic value of semiconductor element

WO2021009590 Art A1 21. Januar 2021

Anmelder: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021009590
Aktenzeichen: EP20840957
Anmeldetag: 30. Juni 2020
Veröffentlichung: 21. Januar 2021
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/02H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Semiconductor Energy Laboratory

Japanisches Forschungsunternehmen mit Sitz in Atsugi. Semiconductor Energy Laboratory (SEL) forscht an Halbleitertechnologien, Flüssigkristall- und OLED-Displays sowie Dünnschichttransistoren.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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