Specimen inspection device, operation method of specimen inspection apparatus, and operation program of specimen inspection apparatus

WO2021014697 Art A1 28. Januar 2021

Anmelder: FUJIFILM CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021014697
Aktenzeichen: EP20844504
Anmeldetag: 10. April 2020
Veröffentlichung: 28. Januar 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G01N35/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FUJIFILM CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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