Overlay Measurement Targets Design

WO2021016408 Art A1 28. Januar 2021

Anmelder: KLA CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2021016408
Aktenzeichen
EP20843876
Anmeldetag
23. Juli 2020
Veröffentlichung
28. Januar 2021
Rechtsraum
WO
IPC
H01L23/544H01L21/66H01L23/525H01L23/528
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA CORPORATION
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

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