Systems and methods for moke metrology with consistent mram die orientation

WO2021016500 Art A1 28. Januar 2021

Anmelder: KLA CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2021016500
Aktenzeichen
EP20843269
Anmeldetag
24. Juli 2020
Veröffentlichung
28. Januar 2021
Rechtsraum
WO
IPC
G01R33/032G11C29/00G01N21/21
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA CORPORATION
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen