An automated test equipment for testing a device under test which comprises a processing unit and a program and/or data memory, an automated test equipment which comprises a test controller, one or more interfaces to the device under test, a shared memory and a method for testing a device under test
WO2021023372
Art A1
11. Februar 2021
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021023372
- Aktenzeichen
- EP19753005
- Anmeldetag
- 6. August 2019
- Veröffentlichung
- 11. Februar 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/317G06F11/263G06F11/273
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
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