Method and metrology tool for determining information about a target structure, and cantilever probe
WO2021028174
Art A1
18. Februar 2021
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021028174
- Aktenzeichen
- EP20744028
- Anmeldetag
- 22. Juli 2020
- Veröffentlichung
- 18. Februar 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F9/00G01N29/24B82Y35/00G03F7/20G01N29/34G01Q60/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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