Microscope image measurement device and microscope image measurement method
WO2021033416
Art A1
25. Februar 2021
Anmelder: V TECHNOLOGY CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021033416
- Aktenzeichen
- EP20854205
- Anmeldetag
- 22. Juni 2020
- Veröffentlichung
- 25. Februar 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/24G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- V TECHNOLOGY CO., LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
V Technology
V Technology ist ein japanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für Displays und Halbleiter. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Optik und Fototechnik, ergänzt um Fertigungs- und Messtechnik. Anmeldungen laufen von 2005 bis in die Gegenwart.
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