A test arrangement, an automated test equipment and a method for testing a device under test comprising a circuit and an antenna which is coupled to the circuit
WO2021037364
Art A1
4. März 2021
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021037364
- Aktenzeichen
- EP19765669
- Anmeldetag
- 28. August 2019
- Veröffentlichung
- 4. März 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/302
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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