Super-resolution measurement device and super-resolution measurement device operation method

WO2021044670 Art A1 11. März 2021

Anmelder: FUJIFILM CORPORATION, NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION HOKKAIDO UNIVERSIT 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021044670
Aktenzeichen: EP20860859
Anmeldetag: 1. Mai 2020
Veröffentlichung: 11. März 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/17G02B21/36H04N5/225H04N5/232G06T3/40

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: FUJIFILM CORPORATION
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION HOKKAIDO UNIVERSIT
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

21.764 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

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