Slit lamp microscope, ophthalmic information processing device, ophthalmic system, method for controlling slit lamp microscope, and recording medium
WO2021049104
Art A1
18. März 2021
Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021049104
- Aktenzeichen
- EP20863035
- Anmeldetag
- 2. Juni 2020
- Veröffentlichung
- 18. März 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B3/135
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOPCON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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